SN74ABT8245DWR, Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC T/R
Изображения служат только для ознакомления, см. техническую документацию
- Код товара
- 8039023117
- Артикул
- SN74ABT8245DWR
- Бренд
- Texas Instruments
- PPAP
- No
- Mounting
- Surface Mount
- Packaging
- Tape and Reel
- Pin Count
- 24
Цена по запросу
(от 1 180 ₽)
Минимальный заказ: 70 шт.
Стоимость и сроки поставки подтвердит менеджер после заявки.
Описание
Сканирующее тестовое устройство от -40°C до 85°C с 24-контактным разъемом SOIC T/R
Технические параметры
| PPAP | No |
| Mounting | Surface Mount |
| Packaging | Tape and Reel |
| Pin Count | 24 |
| Automotive | No |
| Lead Shape | Gull-wing |
| Вес, г | 1 |
| PCB changed | 24 |
| Part Status | Active |
| Package Width | 7.6(Max) |
| Package Length | 15.6(Max) |
| Product Category | Scan Test Device |
| Supplier Package | SOIC |
| Standard Package Name | SO |
| Number of Element Inputs | 8 |
| Supplier Temperature Grade | Commercial |
| Number of Elements per Chip | 1 |
| Maximum Operating Temperature (°C) | 85 |
| Minimum Operating Temperature (°C) | -40 |
| Absolute Propagation Delay Time (ns) | 13.5 |
| Maximum Operating Supply Voltage (V) | 5.5 |
| Minimum Operating Supply Voltage (V) | 4.5 |
| Typical Operating Supply Voltage (V) | 5 |